基于FTIR红外技术晶圆膜厚检测设备的研发
盖泽精密科技

盖泽精密科技创始团队以周益初为核心,其拥有天津城建大学材料化学本科及复日大学工商管理硕土背景,拥有10年工业自动化外企管理经验,曾创建视觉读码企业并实现亿元年销售额。后聚焦半导体前道量检测设备二次创业,获高新区及姑苏创新创业领军人才称号。团队汇聚行业精英,形成技术与市场双驱动的复合型团队。其中,浙大光电硕土、霍尼韦尔北美研究院院士任杰拥有43项中美专利;郑适禹成功将半导体设备打入半导体国际头部企业;卢利军、秦志军、洪建立等在机械设计、电路开发领域经验丰富。

本项目是一款集自研FTIR红外光路系统、自动化晶圆检测机台及半导体专业分析软件于一体的先进检念康市学子可与各类望保空途养庭特制腔一代半导休(砷化镓,磷化钢衬底外延).三代半导体(碳化硅、氮化镓外延片)、分子束外延(MBE)等的外延层厚度,光刻胶厚度及CMP抛光后的厚度,以及量测半导体生产制备中各种元素浓話,具書品,大的核有强大的核心竞争力。